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白雪冰, 王卿, 周长祥, 袁家义. X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫[J]. 岩矿测试, 2004, (3): 225-227.
引用本文: 白雪冰, 王卿, 周长祥, 袁家义. X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫[J]. 岩矿测试, 2004, (3): 225-227.
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Determination of Cl and S in Geological Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2004, (3): 225-227.
Citation: Determination of Cl and S in Geological Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2004, (3): 225-227.
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X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

Determination of Cl and S in Geological Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry

    摘要
  • 摘要: 使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S，探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD，n=6)小于10％，S的精密度(RSD，n=6)小于5％。Cl和S的方法检出限分别为14和11μg／g，采用国家标准物质分析验证方法，其结果与标准值相符。

     

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