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黄宇营, 雷勇, 沙因, 冯向前, 程琳, 何伟, 冯松林, 范东宇, 徐清. 关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨[J]. 岩矿测试, 2004, (3): 179-182.
引用本文: 黄宇营, 雷勇, 沙因, 冯向前, 程琳, 何伟, 冯松林, 范东宇, 徐清. 关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨[J]. 岩矿测试, 2004, (3): 179-182.
Study on Microanalysis Reference Material for X-Ray Fluorescence Analysis[J]. Rock and Mineral Analysis, 2004, (3): 179-182.
Citation: Study on Microanalysis Reference Material for X-Ray Fluorescence Analysis[J]. Rock and Mineral Analysis, 2004, (3): 179-182.

关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨

Study on Microanalysis Reference Material for X-Ray Fluorescence Analysis

  • 摘要: 将经过高温处理的土壤样品进行反复研磨后,用于X射线荧光微分析标准物质的研制,当99%的粉末粒径≤30μm时,用仪器中子活化和同步辐射X射线荧光进行元素分布均匀性和最少取样量分析,结果表明24个元素的最少取样量可以降到约1mg。

     

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