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孙大泽, 梁宝鎏. 在厚靶分析中外标法的表面形状校正[J]. 岩矿测试, 2003, (1): 10-14.
引用本文: 孙大泽, 梁宝鎏. 在厚靶分析中外标法的表面形状校正[J]. 岩矿测试, 2003, (1): 10-14.
Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (1): 10-14.
Citation: Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (1): 10-14.

在厚靶分析中外标法的表面形状校正

Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane

  • 摘要: 在厚靶的非破坏性x射线荧光分析中,以钇做外标元素,研究了不同样品形状及与源、探测器距离不同时,引起接收到元素荧光强度差异的校正方法。给出了对不同形状瓷片中元素特征峰计数校正前后的比较。探讨了此种方法带入的测量误差。

     

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