摘要: 报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证，与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明，该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ），测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级，对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好，水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。