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巢志瑜, 安庆骧. 同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究[J]. 岩矿测试, 1992, (3): 252-255.
引用本文: 巢志瑜, 安庆骧. 同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究[J]. 岩矿测试, 1992, (3): 252-255.
shu
Use of Geological Standard Reference Materials in Synchrotron Radiation X-Ray Fluorescence Microprobe Technique[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, (3): 252-255.
Citation: Use of Geological Standard Reference Materials in Synchrotron Radiation X-Ray Fluorescence Microprobe Technique[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, (3): 252-255.
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同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究

Use of Geological Standard Reference Materials in Synchrotron Radiation X-Ray Fluorescence Microprobe Technique

    摘要
  • 摘要: 将国家级标样GSR-1至GSR-7研磨至颗粒度<2μm,在大气光路中以光斑尺寸为100μm×l00μm的同步辐射X射线(白光)激发,si(Li)半导体探测器采集荧光信号。研究了这些岩石标样中元素(K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zn、Rb、sr、Zr)的X射线荧光强度平均值的相对标准偏差与取样量(点数或面积)的关系,测算了使用这套国家岩石标准样的取样量(点数或面积),并确定了实用的测量方法。为同步辐射X射线荧光微探针扫描技术提供一套(7个)适用的岩石标准样。

     

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