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郑厚琳, 秦星临. 微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银[J]. 岩矿测试, 1992, (3): 217-220.
引用本文: 郑厚琳, 秦星临. 微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银[J]. 岩矿测试, 1992, (3): 217-220.
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X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, (3): 217-220.
Citation: X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, (3): 217-220.
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微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银

X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film

    摘要
  • 摘要: 在氨性介质中以水合联氨还原,Au兼作载体和内标,微孔滤膜制片,XRF测定Ag的方法应用于银矿标准物质及铜矿、铅锌矿、低品位金矿样品中x～xxxμg/g含量Ag的测定。分析结果的RSD优于3％,准确度与常规方法相当。

     

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