【引用本文】 李国会, 潘宴山, 张勤, 等. X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分[J]. 岩矿测试, 2004, (1): 19-24.

X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分

中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所 河北廊坊 065000,河北廊坊 065000,河北廊坊 065000,河北廊坊 065000

修回日期: 2003-03-10 

基金项目: 国土资源部地质大调查项目(DKD9904017)

Determination of 25 Major, Minor and Trace Elements in Geochemical Exploration Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry

Revised Date: 2003-03-10

摘要:采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n

关键词: 化探样品, X射线荧光光谱仪, 背景位置选择, 谱线重叠校正, 粉末样品压片

Determination of 25 Major, Minor and Trace Elements in Geochemical Exploration Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry

KEY WORDS: geochemical, exploration, sample, PW2440, X-ray
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X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分

李国会, 潘宴山, 张勤, 樊守忠