【引用本文】 唐梦奇, 黎香荣, 刘国文, 等. X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2的含量[J]. 岩矿测试, 2015, 34(5): 565-569. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.05.011
TANG Meng-qi, LI Xiang-rong, LIU Guo-wen, et al. Determination of Free α-SiO2 Content in Mill Scale by X-ray Diffraction K Value Method[J]. Rock and Mineral Analysis, 2015, 34(5): 565-569. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.05.011

X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2的含量

防城港出入境检验检疫局, 广西 防城港 538001

收稿日期: 2015-03-20  修回日期: 2015-08-20  接受日期: 2015-09-05

基金项目: 国家质检总局科技计划项目(2014IK268)

作者简介: 唐梦奇, 工程师, 主要从事X射线荧光光谱和X射线衍射分析工作。E-mail: tangmeng773@163.com。

Determination of Free α-SiO2 Content in Mill Scale by X-ray Diffraction K Value Method

Fangchenggang Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Fangchenggang 538001, China

Received Date: 2015-03-20
Revised Date: 2015-08-20
Accepted Date: 2015-09-05

摘要:目前通常采用焦磷酸法和X射线衍射法测定游离α-SiO2的含量, 其中焦磷酸法不能消除氧化铁皮中FeO、Fe3O4和Fe2O3等焦磷酸难溶物质的影响, 不适合用于测定氧化铁皮中的游离α-SiO2。本文建立了采用X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2含量的方法。以α-Al2O3作为参考物质, 以α-SiO2(101) 衍射峰和α-Al2O3(012) 衍射峰作为测量谱峰, 将α-SiO2α-Al2O3(质量比1:1) 混合均匀制备成测量K值的试样, 获得K值为7.86, 应用此值分析已知游离α-SiO2含量的氧化铁皮样品, 游离α-SiO2含量的测定值与实际值相符。该方法的测定范围为游离α-SiO2含量≥0.50%, 测量范围宽, 且方便快速, 能够满足进口氧化铁皮检验监管的工作需求。

关键词: 氧化铁皮, 游离α-SiO2含量, X射线衍射法, K值法

Determination of Free α-SiO2 Content in Mill Scale by X-ray Diffraction K Value Method

KEY WORDS: mill scale, free α-SiO2 content, X-ray Diffraction, K value method

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X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2的含量

唐梦奇, 黎香荣, 刘国文, 刘顺琼