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杨桂芳, 杜安道. 激光荧光法测定地质样品中痕量铀[J]. 岩矿测试, 1989, (3): 208-211.
引用本文: 杨桂芳, 杜安道. 激光荧光法测定地质样品中痕量铀[J]. 岩矿测试, 1989, (3): 208-211.

激光荧光法测定地质样品中痕量铀

  • 摘要: 作者研制了XPY和XBY两种荧光增强试剂,用于激光荧光法测定地质样品中痕量铀。荧光增强剂不仅对铀有荧光增强作用,而且使测定体系具有较强的抗干扰能力。经验证对岩石样品中的铀的检出下限为0.01ppm。能满足岩石矿物中痕量铀的测定要求。

     

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