高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征
胡勇平, 于学峰, 郑林伟, 郑遗凡
doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007
X射线能谱元素像分析技术(EDS-Mapping)可直接观察岩石光片中目标元素的分布特征。本文采用高分辨扫描电镜及配置的X射线能谱仪综合分析技术, 对山东归来庄金矿中碲元素和其他元素的分布特征和组合规律进行研究, 定性确定含碲矿物、形态特征及其与其他矿物间的空间关系。结果表明, 研究区金矿中含碲矿物有棱角状碲金银矿、碲化铅等, 以浸染状形貌他形镶嵌于主矿物他形石英和片状云母之间, 颗粒大小从几微米到几百微米极不均匀。对典型含碲矿物的微区成分进一步精确测定, 得到碲金银矿和碲化铅的化学式为Ag0.85Au2.55Te6和Pb0.52Te0.48, 其中碲金银矿成分明显异常。本文研究为稀散分布微细矿物的成分、形态分布及与围岩关系建立了一套先进实用的表征方法, 可为含碲金矿的综合利用提供技术支持。
关键词: 碲矿物, 形态特征, 扫描电镜, X射线能谱(EDS)Mapping技术

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